{{flagHref}}
المنتجات
  • المنتجات
  • الفئات
  • المدونة
  • البودكاست
  • التطبيق
  • المستند
|
/ {{languageFlag}}
اختر اللغة
Stanford Advanced Materials {{item.label}}
Stanford Advanced Materials
اختر اللغة
Stanford Advanced Materials {{item.label}}

CY9489 رقاقة سيليكون رقاقة اختبار رقاقة السيليكون من النوع P (مخدر ب) 300 مم (100)، DSP، 1-100 أوم-سم

رقم الكتالوج CY9489
المواد سي
الشكل القرص
الاستمارة الركيزة

ركيزة اختبار رقاقة السيليكون من النوع P (مخدرة ب) 300 مم (مخدرة ب) من رقاقة السيليكون من الدرجة (100)، DSP، 1-100 أوم-سم هي ركيزة سيليكون منتجة لاختبار أشباه الموصلات مع اتجاه بلوري (100) متحكم فيه. وتستخدم Stanford Advanced Materials (SAM) نظاماً صارماً لتخدير البورون وتقنيات تقييم العيوب في الخط، بما في ذلك التصوير عالي الدقة، لتأمين قيم مقاومة تتراوح بين 1 و100 أوم-سم. وتقلل معالجة DSP من عيوب السطح إلى الحد الأدنى، وهو أمر أساسي لإجراء تقييمات دقيقة للأداء الكهربائي.

الاستفسار
أضف للمقارنة
وصف
المواصفات
التعليقات

طلب عرض أسعار

أرسل لنا استفسارًا اليوم لمعرفة المزيد والحصول على أحدث الأسعار. شكرًا لك!

* اسمك
* بريدك الإلكتروني
* اسم المنتج
* هاتفك
* البلد

الإمارات العربية المتحدة

    التعليقات
    أود الاشتراك في القائمة البريدية لتلقي التحديثات من Stanford Advanced Materials.
    أرفق الرسومات:

    تخزين الملفات هنا أو

    * التحقق من الرمز
    أنواع الملفات المقبولة: PDF، png، jpg، jpeg. قم بتحميل عدة ملفات مرة واحدة؛ يجب أن يكون حجم كل ملف أقل من 2 ميغابايت.
    اترك رسالة
    اترك رسالة
    * اسمك:
    * بريدك الإلكتروني:
    * اسم المنتج:
    * هاتفك:
    * التعليقات: